基于SiC功率器件与配套驱动方案的固态变压器(SST)全流程设计

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基于基本半导体SiC功率器件与配套青铜剑驱动方案的固态变压器(SST)全流程设计

BASiC Semiconductor基本半导体一级代理商倾佳电子(Changer Tech)是一家专注于功率半导体和新能源汽车连接器的分销商。主要服务于中国工业电源电力电子设备和新能源汽车产业链。倾佳电子聚焦于新能源、交通电动化和数字化转型三大方向,代理并力推BASiC基本半导体SiC碳化硅MOSFET单管,SiC碳化硅MOSFET功率模块,SiC模块驱动板等功率半导体器件以及新能源汽车连接器。

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倾佳电子杨茜致力于推动国产SiC碳化硅模块在电力电子应用中全面取代进口IGBT模块,助力电力电子行业自主可控和产业升级!

倾佳电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三个必然,勇立功率半导体器件变革潮头:

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1. 绪论:能源变革背景下的固态变压器技术演进

1.1 传统电网架构的局限性与SST的兴起

在当今全球能源互联网(Energy Internet)与智能电网(Smart Grid)飞速发展的宏观背景下,传统的电力传输与分配基础设施正面临着前所未有的挑战。作为电网核心组件的工频变压器(Line Frequency Transformer, LFT),虽然在过去的一个世纪中以其高可靠性和低成本奠定了现代电力系统的基石,但其基于电磁感应原理的无源特性决定了其体积、重量与运行频率成反比。根据缩放定律,处理兆瓦级功率的工频变压器不仅体型庞大、重量惊人,且在面对分布式可再生能源(如光伏、风电)接入、电动汽车(EV)大功率充电负荷冲击以及直流微网互联等新兴需求时,表现出明显的灵活性不足。传统变压器缺乏主动的潮流控制能力,无法提供无功补偿,且对电网谐波污染无能为力。

固态变压器(Solid State Transformer, SST),亦被称为电力电子变压器(Power Electronic Transformer, PET),代表了电力电子技术对传统电力设备的颠覆性重构。SST不仅仅是一个电压变换装置,它实质上是一个包含高频隔离环节的多级电力电子变换器系统。通过引入中高频(Medium/High Frequency, MF/HF)变压器替代庞大的工频变压器,SST在理论上可将变压器的体积和重量减少数倍甚至一个数量级。更关键的是,SST引入了全控型功率半导体器件,使其具备了“电网路由器”的智能属性:它能够实现能量的双向流动控制、端口电压和电流的瞬时调节、单位功率因数运行、故障隔离以及交直流(AC/DC)混合接口功能。

1.2 碳化硅(SiC)技术:SST工程化落地的关键使能者

尽管SST的概念早在数十年前即被提出,但受限于以硅(Silicon, Si)为基础的功率半导体器件(如Si IGBT、Si MOSFET)的物理极限,其商业化进程一度停滞。硅基器件在高压大电流应用中存在严重的“开关损耗-导通损耗”折中矛盾。例如,高压IGBT在关断时存在拖尾电流,导致开关损耗巨大,将其开关频率限制在几千赫兹(kHz)以内。这一频率范围对于大幅减小磁性元件体积而言仍然过低,无法充分发挥SST的高功率密度优势。此外,硅器件耐温能力有限,复杂的散热系统进一步抵消了体积缩减带来的红利。

宽禁带(Wide Bandgap, WBG)半导体材料,特别是碳化硅(Silicon Carbide, SiC),为SST的工程化落地提供了决定性的技术突破口。相比于硅,碳化硅材料具有约3倍的禁带宽度、10倍的临界击穿场强和3倍的热导率。这些物理特性转化为器件层面的优势表现为:

高耐压与低阻抗并存:SiC MOSFET作为单极性器件,没有IGBT的拐点电压(Knee Voltage),且漂移区电阻随耐压增加的速率远低于硅器件,这使得高压SiC MOSFET能够实现极低的导通电阻(RDS(on)​)。

极速开关能力:SiC器件极低的结电容和反向恢复电荷(Qrr​),使其能够以数十甚至上百kHz的频率进行硬开关或软开关操作,从而将磁性元件的工作频率提升一个数量级。

高温运行能力:SiC材料的本征高温特性允许芯片在更高结温下工作,简化了热管理系统的设计。

1.3 “从0到1”的设计理念与基本半导体解决方案

设计一台高性能的SST并非简单的器件堆叠,而是一个涉及拓扑架构选择、核心功率器件匹配、精密驱动控制、热管理及绝缘设计的系统工程。所谓“从0到1”的设计,意味着需要从最底层的器件物理特性出发,向上构建整个变压器系统。

倾佳电子杨茜将构建一套完整的SST设计方案,该方案深度依托于深圳基本半导体股份有限公司(BASiC Semiconductor)及其全资子公司青铜剑技术(Bronze Technologies)的产品生态。基本半导体作为中国第三代半导体行业的领军企业,提供了从芯片设计、晶圆制造到模块封装的全产业链支持。特别是其Pcore™2 ED3系列和62mm系列工业级SiC MOSFET模块,以及基本半导体子公司青铜剑技术的ASIC芯片组驱动方案,为SST的高压、高频、高可靠性需求提供了定制化的硬件基础。倾佳电子杨茜详细阐述如何利用这些核心组件,解决SST设计中的电压等级匹配、开关损耗抑制、米勒效应(Miller Effect)干扰及长期可靠性验证等关键技术难题。

2. 固态变压器拓扑架构设计与器件选型策略

2.1 模块化多电平架构(Modular Multilevel Architecture)

鉴于目前商用SiC功率器件的主流电压等级集中在1200V至3300V区间,而配电网电压通常为10kV、35kV甚至更高,单管器件无法直接耐受电网电压。因此,SST必须采用模块化级联的拓扑结构。输入串联输出并联(Input-Series Output-Parallel, ISOP)架构是目前最成熟且应用最广泛的SST拓扑方案。

在ISOP架构中,高压交流输入侧被分割为N个级联的功率单元(Power Cell),每个单元承担1/N的输入电压。每个功率单元内部包含三个核心级联环节:

AC/DC有源整流级(Active Front End, AFE) :负责将分压后的工频交流电转换为稳定的直流母线电压,并控制输入电流正弦化及功率因数校正(PFC)。

DC/DC隔离变换级(Dual Active Bridge, DAB) :这是SST的核心“变压”环节。利用高频变压器实现原副边电气隔离和电压匹配,通常采用双有源桥(DAB)或LLC谐振变换器拓扑,以实现软开关(ZVS/ZCS),最大化效率。

DC/AC或DC/DC输出级:根据负载需求(如低压交流电网或直流充电母线),将低压侧直流电进行逆变或调压输出。

2.2 核心功率器件选型:基本半导体ED3系列SiC MOSFET

在SST的每个功率单元中,功率半导体的性能直接决定了整机的效率上限和体积下限。针对典型的10kV配电网SST应用,我们选择基本半导体的Pcore™2 ED3系列工业模块作为核心开关器件。

2.2.1 电压等级与级联数量计算

ED3系列的主力型号BMF540R12MZA3的额定漏源击穿电压(VDSS​)为1200V 。在SST设计中,为了保证长期运行的可靠性,需考虑宇宙射线失效率(Cosmic Ray Failure Rate)及开关过电压,工程上通常按照60%-70%的降额使用。

设定每个功率单元的直流母线电压 Vdc_link​=800V。

对于10kV AC电网(线电压),其相电压峰值为 10kV×2​/3​≈8.16kV。

所需级联模块数量 N=8160V/800V≈10.2。考虑到冗余设计,每相需串联11-12个功率单元。

这一计算表明,1200V的器件规格完美契合级联型SST的单元电压需求,既避免了更高电压等级器件(如3.3kV)带来的高昂成本和稍高的导通电阻,又比650V器件减少了级联级数,降低了系统控制复杂度。

2.2.2 电流容量与导通损耗优势

BMF540R12MZA3拥有540A的额定电流,且其导通电阻(RDS(on)​)在25℃结温下典型值仅为2.2 mΩ 。即将发布的BMF900R12MZA3更是将电流提升至900A,电阻降至惊人的1.4 mΩ。

与同电压等级的硅基IGBT相比,这种低导通电阻特性对SST至关重要:

无拐点电压:IGBT存在VCE(sat)​(约1.7V-2.0V)的固有压降,导致其在轻载下效率急剧下降。而SiC MOSFET表现为纯电阻特性,在SST常见的平均负载率(30%-50%)工况下,导通压降远低于IGBT(例如200A时,2.2 mΩ对应压降仅0.44V),显著提升全工况效率。

高温稳定性:基本半导体第三代芯片技术优化了高温下的电阻漂移率,确保模块在接近175℃结温极限时仍能保持较低的损耗,这对于处于高压侧、散热条件相对受限的SST功率单元尤为重要。

2.2.3 动态性能与频率提升

ED3模块的栅极总电荷(QG​)为1320 nC(BMF540),配合低杂散电感(Lσ​≤14nH)的封装设计 ,使其能够支持极高的di/dt和dv/dt。

频率红利:传统IGBT基SST受限于拖尾电流,开关频率通常限制在3-5kHz,导致中频变压器体积依然较大。采用ED3模块后,AC/DC级频率可提升至20-40kHz,DC/DC级(DAB)可提升至50-100kHz。

体积缩减:根据电磁感应定律,变压器体积与频率近似成反比。从5kHz提升至50kHz,意味着磁性元件体积理论上可缩小至原来的1/10,从而实现SST系统功率密度的质的飞跃。

2.3 封装材料的可靠性考量

SST作为电网设备,通常要求20年以上的服役寿命。功率模块需承受日夜负荷波动带来的剧烈热循环(Power Cycling)。基本半导体在ED3及62mm模块中引入了氮化硅(Si3​N4​)AMB(Active Metal Brazing)陶瓷基板 。

机械强度:Si3​N4​的抗弯强度高达700 N/mm2 ,远超氧化铝(Al2​O3​, 450 N/mm2)和氮化铝(AlN, 350 N/mm2)。

热抗震性:更关键的是,Si3​N4​基板在经历1000次以上的冷热冲击(Thermal Shock)试验后,铜箔与陶瓷之间不会出现分层(Delamination)现象,而传统材料往往在此阶段失效。这种高可靠性封装是SST能够适应户外变电站严苛环境的物质保障。

3. 驱动系统设计:从芯片到板级的全栈解决方案

在SiC SST设计中,拥有高性能的功率器件只是第一步。SiC MOSFET极高的开关速度(dv/dt>50V/ns)对栅极驱动电路提出了极其严苛的要求。驱动电路不仅要提供足够的驱动功率,还必须解决串扰(Crosstalk)、误导通、高压隔离以及快速保护等问题。本方案采用基本半导体旗下青铜剑技术的驱动解决方案,构建“ASIC芯片+隔离电源+板级集成”的完整驱动链条。

3.1 驱动架构核心:BTD5350MCWR驱动芯片

针对ED3模块的驱动,推荐采用BTD5350MCWR单通道隔离驱动芯片 。该芯片采用SOW-8宽体封装,集成了多项针对SiC特性的关键功能。

3.1.1 驱动电压与电流能力

为了充分控制器件的通断,驱动电压设计为:

开通电压(VGS_on​) :+18V。这能使器件完全导通,达到最低的RDS(on)​(2.2 mΩ)。若驱动电压不足(如+15V),导通电阻将显著增加,导致热损耗上升。

关断电压(VGS_off​) :-4V至-5V。负压关断是提高抗干扰能力、防止误导通的必要手段。

考虑到BMF540模块的栅极电荷QG​=1320nC,要实现100ns级别的快速开关,所需的瞬时驱动电流峰值 Ig​=QG​/tsw​ 可达13A以上。BTD5350芯片配合外置推挽电路或选用基本半导体子公司青铜剑2CP系列增强型驱动板,可提供25A甚至更高的峰值电流 ,确保开关波形陡峭,减少开关损耗(Eon​,Eoff​)。

3.2 米勒钳位(Miller Clamp):高频SST的“安全阀”

在SST的半桥或H桥拓扑中,上下管交替导通。当上管快速开通时,桥臂中点电压瞬间从0V跳变至800V(DC母线电压)。这一极高的dv/dt会通过下管(处于关断状态)的米勒电容(Cgd​)产生位移电流:

IMiller​=Cgd​×dtdv​

该电流流经下管的栅极回路电阻(Rg_off​),在栅极产生感应电压:

Vgs_induced​=VEE​+IMiller​×Rg_off​

SiC MOSFET的阈值电压(VGS(th)​)较低,通常仅为2.7V左右(高温下更低)。如果感应电压超过此阈值,下管将发生“假导通”(False Turn-on),导致母线短路(Shoot-through),可能瞬间烧毁模块。

青铜剑解决方案: BTD5350MCWR芯片集成了有源米勒钳位(Active Miller Clamp)功能 。

工作原理:在关断期间,驱动芯片持续监测栅极电压。当电压降至约2V以下时,芯片内部的一个低阻抗MOSFET导通,直接将栅极钳位至负电源轨(VEE​)。

设计价值:这实际上旁路了外部栅极电阻Rg_off​,为米勒电流提供了一条极低阻抗的泄放通路,将栅极电压死死“按”在安全电平,从而彻底杜绝了高频SST中的直通风险。这一功能是SiC SST驱动设计中不可或缺的“标配”。

3.3 隔离供电系统:BTP1521P + 专用变压器

SST的高压侧驱动电路处于悬浮电位,需要极高可靠性的隔离电源。基本半导体子公司青铜剑提供的BTP1521P是一款专为驱动供电设计的正激DC-DC控制芯片

配合变压器:TR-P15DS23-EE13。

性能指标:该组合可提供单通道2W以上的功率输出。对于50kHz开关频率下的BMF540模块,其驱动功率需求 Pdrv​=QG​×ΔVgs​×fsw​≈1320nC×23V×50kHz≈1.52W。因此,2W的设计容量恰到好处,既满足需求又留有裕量。

隔离等级:专用变压器设计确保了原副边之间的高绝缘强度,满足10kV电网下的安规要求(结合多级绝缘设计)。

3.4 板级集成方案:BSRD系列与2CP系列

为了简化SST研发过程,青铜剑提供了成熟的板级解决方案:

BSRD-2503参考设计 :专为62mm封装模块设计,直接安装在模块上方,极大减小了栅极回路的寄生电感,抑制了栅极震荡。

2CP0225Txx即插即用驱动器 :这是一款集成了隔离电源、短路保护(Vce检测)、软关断(Soft Turn-off)和米勒钳位的高端驱动核。针对SST应用,其软关断功能尤为重要:当检测到后级短路时,驱动器会缓慢关断SiC MOSFET,避免因di/dt过大在母线杂散电感上感应出过电压击穿模块。

4. 仿真验证与性能对标分析

为了验证“从0到1”设计的有效性,我们基于基本半导体提供的仿真数据,对采用ED3模块的SST系统性能进行预估,并与传统IGBT方案进行对标。

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4.1 逆变工况下的效率对标

在典型的三相逆变拓扑(模拟SST的DC/AC级或AC/DC级)中,设定工况为:母线电压800V,相电流400A(有效值),散热器温度80℃ 。

SiC方案(BMF540) :在8kHz开关频率下,单开关总损耗为386.41W。

IGBT方案(竞品F) :同工况下,总损耗为571.25W。

IGBT方案(竞品I) :同工况下,总损耗为658.59W。

数据分析:

采用SiC模块后,单管损耗降低了32%至41% 。系统效率从IGBT方案的约98.7%提升至99.38% 。这0.6%的效率提升看似微小,但在兆瓦级SST中意味着减少了数千瓦的热损耗。

更为关键的是,IGBT在8kHz时结温已接近极限,而SiC模块的结温仍有巨大裕量。利用这一热裕量,设计者可以将SiC的开关频率提升至40kHz-50kHz。虽然此时开关损耗会增加,但总损耗仍可控制在IGBT方案(8kHz)的水平以内,从而在不增加散热负担的前提下,实现磁性元件体积的成倍缩减。

4.2 DC-DC Buck工况(DAB级模拟)

在SST的中间隔离级(模拟为Buck工况),SiC的优势更为显著 。

频率敏感性:随着频率从2.5kHz提升至20kHz,IGBT模块的开关损耗呈指数级上升,导致效率急剧恶化,甚至无法运行。

SiC表现:BMF540模块在20kHz频率下,输出电流能力依然强劲,整机效率维持在99.09%的高位。仿真显示,在限制结温175℃的条件下,SiC模块在10kHz-20kHz频率段内的电流输出能力远超同规格IGBT。

这意味着,构建基于SiC MOSFET的DAB变换器,可以轻松实现50kHz以上的谐振频率,使得中频变压器可以使用纳米晶或铁氧体磁芯,彻底摆脱笨重的硅钢片,实现SST“固态化”轻量化的核心目标。

5. 可靠性验证体系

SST作为电网关键设备,其可靠性验证不容有失。基本半导体对其SiC器件(以离散器件B3M013C120Z为例)执行了超越传统工业标准的严苛测试,为SST的选型提供了数据支撑 。

5.1 关键可靠性测试项目

高温反偏(HTRB) :在175℃结温、1200V满压下持续1000小时。该测试验证了SiC芯片边缘终端结构的稳定性,确保在SST长期阻断高压时不会发生漏电流漂移或击穿。

高温高湿反偏(H3TRB) :在85℃、85%湿度环境下施加960V电压1000小时。这是针对户外型SST最重要的环境适应性测试,验证了封装材料对湿气侵入的防护能力,防止电化学迁移导致的短路。

间歇工作寿命(IOL) :进行15000次功率循环,结温波动ΔTj​≥100∘C。该测试直接模拟了SST在电网中随负荷波动引起的反复热胀冷缩,验证了Si3​N4​基板与芯片焊接层的抗疲劳能力。

测试结果显示,所有抽样器件在上述测试中均保持零失效(Pass),静态参数无漂移。这证明了基于ED3系列模块构建的SST具备达到电网级(Grid-Grade)可靠性的潜力。

6. 结论与设计建议

基于基本半导体SiC体系的SST固态变压器“从0到1”的设计:

器件决定上限:Pcore™2 ED3系列(BMF540R12MZA3)凭借其1200V/540A的规格、低至2.2mΩ的导通电阻以及Si3​N4​高可靠性封装,是构建兆瓦级SST功率单元的最佳选择。它使得SST的单级效率突破99%成为可能。

驱动决定底限:采用基本半导体子公司青铜剑技术的BTD5350MCWR驱动芯片及配套隔离方案,特别是有源米勒钳位功能的引入,解决了SiC高频应用中的致死性直通风险,确立了系统的安全基线。

拓扑释放潜力:结合ISOP模块化多电平拓扑,利用SiC器件的高频特性(20kHz+),SST设计者可以大幅缩减磁性元件体积,实现相比传统变压器30%以上的体积减量。

综上所述,利用基本半导体的SiC生态链,设计并制造出高性能、高可靠、轻量化的新一代固态变压器不仅在理论上可行,而且在工程实践数据上得到了充分支撑。这为未来智能电网的升级改造提供了一条清晰且极具竞争力的技术路径。

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